半导体工业用红外测温仪

型号

DA44MF

测温范围

50 ~1000 °C

子测温范

在测温范围内可通过RS485通信接口调节，最小跨度50°C

光谱范围

3.5~4.0 µm

光学系数

多种固定光学系数 (100, 300及800), 光圈直径 D = 15

距离系数

约50 : 1

测量误差

0.6 %测量值°C或1K ²

重复精度

0.3 % 测量值°C或0.5K ²

NETD

0.1 K ⁴

响应时间(t⁹⁵)

5 ms, 可通过RS485通信接口调节

发射率

0.050~1.000, 可通过RS485通信接口调节

存储方式

最小值、最大值存储，可通过RS485通信接口调节

输出信号

0/4~20 mA, 线性温度, 最大负荷: 700 Ω @24 V

通信接口

RS485 (电隔离), 半双工, 最大波特率115 kBd, 数据协议Modbus RTU

瞄准方式

无，可选：内置LED瞄准灯或外置激光瞄准适配器

软件

Windows®下PYROSOFT Spot , 可选: PYROSOFT Spot Pro

可调参数

发射率、响应时间、子测温范围，可通过RS485通信接口及软件调节

供电电源

24 V DC ± 25 %, 残留纹波500 mV

功耗

最大1.5 W (没有瞄准灯时)

操作温度

0~70 °C

存储温度

–20~70 °C

重量

约450 g

尺寸

螺纹M40 × 1.5, 长度 126 mm

外壳

不锈钢，带插头

防护等级

IP 65 (符合DIN EN 60529及DIN 40050)